賽默飛Apreo S掃描電鏡主動隔振系統(tǒng)
ArisMD300主動隔振系統(tǒng)
ARISMD主動隔振系統(tǒng)廣泛應用于賽默飛電鏡,ThermoFisfer賽默飛球差矯正透射電鏡、ThermoFisfer賽默飛透射電鏡、ThermoFisfer賽默飛掃描電鏡、ThermoFisfer賽默飛聚焦離子束FIB.....
精密振動控制助力賽默飛電鏡實現(xiàn)最精密測試、實現(xiàn)納米級成像
背 ? ? ? 景:應用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡成像檢測,是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺。
使用單位:廈門稀土材料研究所
地 ? ? ?點:福建省廈門市集美區(qū)兌山西珩路258號
儀器型號:FEI Apreo S LoVac
隔振方案:ArisMD300主動隔振系統(tǒng)

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FEI Apreo S LoVac場發(fā)射掃描電子顯微鏡ArisMD300主動隔振系統(tǒng)應用安裝圖 |
成像測試:

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Apreo S 電鏡掃描圖像65萬倍對比(安裝ArisMD300前后) |